BS IEC 60747-8-4-2004 半导体分立器件.电力开关设备的金属氧化物半导体场效应晶体管
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时间:2024-05-02 22:43:21
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【英文标准名称】:Discretesemiconductordevices-Metal-oxidesemiconductorfield-effecttransistors(MOSFETs)forpowerswitchingapplications
【原文标准名称】:半导体分立器件.电力开关设备的金属氧化物半导体场效应晶体管
【标准号】:BSIEC60747-8-4-2004
【标准状态】:现行
【国别】:英国
【发布日期】:2004-11-09
【实施或试行日期】:2004-11-09
【发布单位】:英国标准学会(BSI)
【起草单位】:BSI
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:电子设备及元件;断路器;验收;半导体;漏电流;金属氧化物半导体;场效应晶体管;详细规范;晶体管;半导体器件;元部件;金属氧化物;氧化物覆层;极限(数学);机械性能;级;分立器件;符号;电子工程;试验;规范(验收);特性;电气工程;检验;可靠度;测量;测量技术;定义;型式;额定值;组装件
【英文主题词】:
【摘要】:Givesdetailsforthefollowingcategoriesofmetal-oxidesemiconductorfield-effecttransistors(MOSFETs)withinversediodes:typeBdepletion(normallyon)typeandTypeCenhancement(normallyoff)type.
【中国标准分类号】:L56
【国际标准分类号】:31_080_30
【页数】:64P;A4
【正文语种】:英语
【原文标准名称】:半导体分立器件.电力开关设备的金属氧化物半导体场效应晶体管
【标准号】:BSIEC60747-8-4-2004
【标准状态】:现行
【国别】:英国
【发布日期】:2004-11-09
【实施或试行日期】:2004-11-09
【发布单位】:英国标准学会(BSI)
【起草单位】:BSI
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:电子设备及元件;断路器;验收;半导体;漏电流;金属氧化物半导体;场效应晶体管;详细规范;晶体管;半导体器件;元部件;金属氧化物;氧化物覆层;极限(数学);机械性能;级;分立器件;符号;电子工程;试验;规范(验收);特性;电气工程;检验;可靠度;测量;测量技术;定义;型式;额定值;组装件
【英文主题词】:
【摘要】:Givesdetailsforthefollowingcategoriesofmetal-oxidesemiconductorfield-effecttransistors(MOSFETs)withinversediodes:typeBdepletion(normallyon)typeandTypeCenhancement(normallyoff)type.
【中国标准分类号】:L56
【国际标准分类号】:31_080_30
【页数】:64P;A4
【正文语种】:英语
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