BS CECC 90000-1985 电子元器件质量评定协调体系.总规范.单片式集成电路
作者:标准资料网
时间:2024-05-20 19:54:00
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【英文标准名称】:Harmonizedsystemofqualityassessmentforelectroniccomponents.Genericspecification:monolithicintegratedcircuits
【原文标准名称】:电子元器件质量评定协调体系.总规范.单片式集成电路
【标准号】:BSCECC90000-1985
【标准状态】:作废
【国别】:英国
【发布日期】:1985-11-29
【实施或试行日期】:1985-11-29
【发布单位】:英国标准学会(BSI)
【起草单位】:BSI
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:加速度试验;公式;检验;能力鉴定;电气试验;软钎焊性试验;单片集成电路;作标记;试样;规范(验收);位置;集成电路;环境试验;方位;资格鉴定;漏泄试验;电子设备及元件;质量保证体系;电路;试验条件;机械试验;认可试验
【英文主题词】:
【摘要】:Generaldetails,qualityassessmentprocedures,testandmeasurementproceduresanddetailsofscreeningrequirements.
【中国标准分类号】:L56;L00
【国际标准分类号】:31_200
【页数】:200P;A4
【正文语种】:英语
【原文标准名称】:电子元器件质量评定协调体系.总规范.单片式集成电路
【标准号】:BSCECC90000-1985
【标准状态】:作废
【国别】:英国
【发布日期】:1985-11-29
【实施或试行日期】:1985-11-29
【发布单位】:英国标准学会(BSI)
【起草单位】:BSI
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:加速度试验;公式;检验;能力鉴定;电气试验;软钎焊性试验;单片集成电路;作标记;试样;规范(验收);位置;集成电路;环境试验;方位;资格鉴定;漏泄试验;电子设备及元件;质量保证体系;电路;试验条件;机械试验;认可试验
【英文主题词】:
【摘要】:Generaldetails,qualityassessmentprocedures,testandmeasurementproceduresanddetailsofscreeningrequirements.
【中国标准分类号】:L56;L00
【国际标准分类号】:31_200
【页数】:200P;A4
【正文语种】:英语
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